正弦振動(dòng)試驗實(shí)驗目的是為了模擬產(chǎn)品在運輸或使用過(guò)程中所遇到的振動(dòng)環(huán)境，驗證其在振動(dòng)環(huán)境下性能退化的情況；該試驗適用于電子產(chǎn)品、包裝件、各種結構件等產(chǎn)品的試驗測試。

　　其實(shí)正弦振動(dòng)試驗失效模式包括：結構破壞、連接位置松動(dòng)、功能失效等。

　　正弦振動(dòng)的關(guān)鍵參數

　　頻率范圍f：電磁振動(dòng)臺的頻率范圍是5~2500Hz；

　　加速度a：根據振動(dòng)臺的推力大小，利用牛頓第二定律計算出來(lái)：

　　F=ma，a=F/m，其中m=臺面質(zhì)量+動(dòng)圈質(zhì)量+樣品質(zhì)量+夾具質(zhì)量；試驗時(shí)應留至少20%的余量。

　　振幅p-p D：水平臺和垂直臺均為50.8mm，垂直臺可擴展到76mm或100mm。

　　只有三個(gè)條件滿(mǎn)足，才能進(jìn)行試驗！

　　正弦振動(dòng)試驗對產(chǎn)品的影響有：

　　1. 對結構的影響

　　這種影響主要是指變形、彎曲、產(chǎn)生裂紋、斷裂和造成部件之間的相互撞擊等。這種破壞又可分為由于振動(dòng)所引起的應力超過(guò)產(chǎn)品結構強度所能承受的極限而造成的破壞，以及長(cháng)時(shí)間的振動(dòng)使產(chǎn)品發(fā)生疲勞而造成的破壞，這種破壞通常是不可逆的。

　　2. 對工作性能的影響

　　這種影響主要是指振動(dòng)使運動(dòng)部件動(dòng)作不正常、接觸部件接觸不良、繼電器產(chǎn)生誤動(dòng)作，電子器件噪聲增大、指示燈閃爍等，從而導致工作不正常、不穩定，甚至失靈、不能工作等。這種影響的嚴重程度，往往取決于振動(dòng)量值的大小，這種破壞通常不屬于性的破壞。

　　3. 對工藝性能的影響

　　這種影響主要是指螺釘松動(dòng)、連接件或焊點(diǎn)脫開(kāi)等。這種破壞通常在一個(gè)不太長(cháng)的振動(dòng)時(shí)間內就會(huì )出現。

　　可靠性測試實(shí)驗目的

　　1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價(jià)產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況；

　　2.生產(chǎn)階段為監控生產(chǎn)過(guò)程提供信息；

　　3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗收；

　　4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規律及有關(guān)的失效模式和失效機理；

　　5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗方案，為用戶(hù)選用產(chǎn)品提供依據。

　　可靠性試驗是為了分析評價(jià)，而產(chǎn)品的可靠性是設計出來(lái)的，制造出來(lái)的，管理出來(lái)的。